鍍層測厚儀

詢價單

應用產品介紹技術參數(shù)

應用

美國Defelsko公司研制的PosiTest G/GM鍍層測厚儀可用于電鍍, 薄漆膜, 鋼鐵上磷化膜的測量.

--美國Defelsko PosiTest G/GM鍍層測厚儀帶可溯源至美國IST的校準證明

--每個美國Defelsko PosiTest G/GM鍍層測厚儀均可與校驗標準和程序匹配

--高耐磨硬質合金探頭利于使用壽命的盡可能優(yōu)化和保證優(yōu)良精度的持久性

--刻度盤的可調中心使校正調整變得簡單方便

--符合國際和國內測試標準

--特別的紋理外殼, 無懼機械沖擊, 水, 酸或溶劑

--獨特整體設計,充分支承, 強制定位,測量過程中無旋轉移動可能

--選擇充分支承測量或僅使用前測量臂的探頭接觸涂層測量均可

--稀土鈷磁鋼的持久磁性, 無需電池

--防爆，絕對的安全性

--1年保證

--設有直觀提示和聲音提示, 提醒測量完畢

--“V” 形槽的探頭外殼設計和獨特的儀器機座, 便于在圓柱形樣品上的定位和測量

--精湊, 輕便, 精確的平衡性, 不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用

--GO/O-GO(啟動/禁動) 按鈕可預設以備快速測量

--探頭放置和轉盤旋轉僅需一指操作

--附帶的腕帶和說明書置于高質皮革盒內備用

詢價單

鍍層測厚儀PosiTest G/GM