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鍍層測厚儀PosiTest G/GM
京公網(wǎng)安備11010802041516號
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美國Defelsko公司研制的PosiTest G/GM鍍層測厚儀可用于電鍍, 薄漆膜, 鋼鐵上磷化膜的測量.
--美國Defelsko PosiTest G/GM鍍層測厚儀帶可溯源至美國IST的校準證明
--每個美國Defelsko PosiTest G/GM鍍層測厚儀均可與校驗標準和程序匹配
--高耐磨硬質合金探頭利于使用壽命的盡可能優(yōu)化和保證優(yōu)良精度的持久性
--刻度盤的可調中心使校正調整變得簡單方便
--符合國際和國內測試標準
--特別的紋理外殼, 無懼機械沖擊, 水, 酸或溶劑
--獨特整體設計,充分支承, 強制定位,測量過程中無旋轉移動可能
--選擇充分支承測量或僅使用前測量臂的探頭接觸涂層測量均可
--稀土鈷磁鋼的持久磁性, 無需電池
--防爆，絕對的安全性
--1年保證
--設有直觀提示和聲音提示, 提醒測量完畢
--“V” 形槽的探頭外殼設計和獨特的儀器機座, 便于在圓柱形樣品上的定位和測量
--精湊, 輕便, 精確的平衡性, 不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用
--GO/O-GO(啟動/禁動) 按鈕可預設以備快速測量
--探頭放置和轉盤旋轉僅需一指操作
--附帶的腕帶和說明書置于高質皮革盒內備用
| PosiTestGM鍍層測厚儀 | PosiTestG鍍層測厚儀 | |
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| 鍍層測厚儀測量范圍 | 0~8mils | 0~200μm |
| 讀數(shù)精度 | 0.04mils （0.8mils以內） ±5%的讀數(shù) （超過0.8mils時） | ± 1μm （20μm以內） ±5%的讀數(shù) （超過20μm時） |
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